题目内容
(请给出正确答案)
[判断题]
A1308.26 nm(I)的谱线强度为8级,309.27 nm(I)的谱线强度为9级。采用光谱分析确定试样中Al是否存在时,若前一谱线在试样谱带中出现而后一谱线未出现,可判断试样中有Al存在。 ()此题为判断题(对,错)。
查看答案
如果结果不匹配,请 联系老师 获取答案
A、X荧光的准直器就是我们常说的入射狭缝和出射狭缝。
B、根据布拉格公式,当晶体两层间反射光的光程差等于射线波长的整数倍时,该两束反射光相互抵消。
C、滤光片可以降低干扰谱线和背景的强度从而改善信噪比。
D、探测器是用来接收X射线并把它转变成可测量的或可观察的量。
由上题中聚砜的GPC谱图以序数为单位把图切割成十个组分,读得各个组分的谱线高度Hi,见表3-6:
表3-4
|
根据习题15所作的标定曲线求各组分的相对分子质量,并计算试样的和d。
A.I、II、Ⅲ、Ⅳ、V
B.II、Ⅲ、Ⅳ、V、VI
C.I、II、Ⅲ、Ⅳ、V、VI、Ⅶ
D.Ⅲ、Ⅳ、V、VI、Ⅶ
A . 极谱波的极限扩散电流id
B . 极谱波的扩散电流i
C . 极谱波的峰值电位φ
D . 当组分和温度一定时,每一种物质的半波电位φ1/2是个定值