题目内容
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[主观题]
()是利用探头与工件表面直接接触而对缺陷进行检测的一种方法。
A、穿透法
B、直接接触法
C、脉冲反射法
D、光反射法
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A、穿透法
B、直接接触法
C、脉冲反射法
D、光反射法
A.高温热
B.电光热
C.电阻热
D.电弧热
若工件在夹具中定位,要使工件的定位表面与夹具的定位元件相接触,从而限制工件的自由度。( )
A:利用原子之间吸引力的变化来记录样品表面轮廓的起伏
B:探针与样品的距离小于1nm
C:针尖与样品有轻微的物理接触
D:针尖与悬臂受范德瓦尔斯力和毛细力两种力的作用
A.是异源四聚体
B.直接与抑癌基因接触后抑制肿瘤细胞的运动
C.不需要与配体结合
D.是为了去除结构异常的基因
E.具有二价阳离子依赖性的细胞表面糖蛋白