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题目内容（请给出正确答案）

[单选题]

在X射线荧光分析中，以LiF晶体(2d=0.4027nm)测定某未知试样，在2θ=14.02。出现一谱峰，可判断为下列______产生。

A.S_b K_α 0.0472nm；

B.S_n K_α 0.0492nm；

C.C_d K_α 0.0536nm；

D.Ag K_α 0.0561nm。

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更多“在X射线荧光分析中，以LiF晶体（2d=0.4027nm)测…”相关的问题

第1题

在X射线荧光分析中把X射线光子能量转换成电信号的装置是（)。

A、分光晶体

B、探测器

C、波高分析器

D、放大器

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第2题

X射线荧光分析中分光元件是（)。

A、棱镜

B、光栅

C、分光晶体

D、光电倍增管

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第3题

波长色散型X射线荧光分析仪常用分光晶体有（)、（)、Ge、PX、InSb、TIAP、OVO等。

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第4题

具有将x射线荧光按波长顺序分开成光谱作用的主件是（)。

A、计数器

B、放大器

C、分光晶体

D、测角仪

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第5题

柳钢使用的AxiosX荧光光谱仪安装（)五块衍射晶体。

A、LiF(200)、LiF(220)、Ge(111)、PE(002)、PX1

B、LiF(200)、LiF(220)、Ge(111)、PE(002)、PX2

C、LiF(200)、LiF(420)、Ge(111)、PE(002)、PX1

D、InSb、LiF(220)、Ge(111)、PE(002)、PX1

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第6题

以下哪个说法是错误的（)

A、X荧光的准直器就是我们常说的入射狭缝和出射狭缝。

B、根据布拉格公式，当晶体两层间反射光的光程差等于射线波长的整数倍时，该两束反射光相互抵消。

C、滤光片可以降低干扰谱线和背景的强度从而改善信噪比。

D、探测器是用来接收X射线并把它转变成可测量的或可观察的量。

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第7题

在X荧光分析中不常使用的探测器是（)。

A、正比计数器

B、闪烁计数器

C、晶体计数器

D、半导体探测器

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第8题

在X射线荧光光谱分析中，制作玻璃片使用的坩埚及模具的材料主要是（)其比例是95%：5%。

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第9题

在X射线荧光分析中，增强效应和基体吸收效应______。

A.分别产生正误差和负误差；

B.分别产生负误差和正误差；

C.均产生正误差；

D.均产生负误差。

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第10题

在X射线荧光分析中，影响定量的因素为______。

A.减弱效应和基体吸收效应；

B.减弱效应和基体增强效应；

C.增强效应和基体增强效应；

D.增强效应和基体吸收效应。

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第11题

满足______方程时，晶体才能产生衍射。当X射线的波长λ已知时，测定出______角，就可计算出______，这是X射线衍射

进行晶体结构分析的基础。故在X射线衍射分析时，需要采用______X射线。

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