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[判断题]

X射线测厚仪的放射源和检测器均置于被测带材的上方。当射线发射时,一部分射线被材料吸收;另一部分则被测材料反射进入检测器,为检测器所吸收。()

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第1题
X射线测厚仪的放射源和检测器均置于被测带材的上方。当射线发射时,一部分射线被材料吸收;另一部分则被测材料反射进入检测器,为检测器所吸收。()
X射线测厚仪的放射源和检测器均置于被测带材的上方。当射线发射时,一部分射线被材料吸收;另一部分则被测材料反射进入检测器,为检测器所吸收。()

A.错误

B.正确

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第2题
在X射线测厚仪中,射线穿透被测材料后,射线强度()。 (A) 按线性规律衰减 (B) 按指数规律衰减 (C) 与被测

在X射线测厚仪中,射线穿透被测材料后,射线强度( )。

(A) 按线性规律衰减 (B) 按指数规律衰减

(C) 与被测材料的厚度成正比 (D) 与被测材料的厚度成反比

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第3题
从获取最佳图像对比度的角度考虑,影响数字减影血管造影X射线能量选择的因素是

A.X射线强度

B.X射线量

C.X射线检测器与被照体的吸收特性

D.曝光时间

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第4题
6从获取最佳图像对比度的角度考虑,影响数字减影血管造影X射线能量选择的因素是A.X射线强度B.X射

6从获取最佳图像对比度的角度考虑,影响数字减影血管造影X射线能量选择的因素是

A.X射线强度

B.X射线量

C.X射线检测器与被照体的吸收特性

D.曝光时间

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第5题
()测厚仪是目前常用的非接触式测厚仪之一,与x射线测厚仪相比它的射线源稳定、廉价。

( )测厚仪是目前常用的非接触式测厚仪之一,与x射线测厚仪相比它的射线源稳定、廉价。

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第6题
下列检测器不用于x射线荧光分析中的是_____。A.正比检测器;B.闪烁检测器;C.半导体计数器;D.热导检

下列检测器不用于x射线荧光分析中的是_____。

A.正比检测器;

B.闪烁检测器;

C.半导体计数器;

D.热导检测器。

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第7题
波长色散型X射线荧光仪通常由X射线源,分子晶体(单色器)和检测器三个主要部分组成。

波长色散型X射线荧光仪通常由X射线源,分子晶体(单色器)和检测器三个主要部分组成。

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第8题
能量色散型与波长色散型X射线荧光光谱仪的不同之处是没有分光系统。它是利用具有一定能量分辨率的X射线检测
器,同时检测样品发射出的各种能量特征X射线的大小和强度。
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第9题
X射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相,而定量分析可以告诉我们这些物相的含量。(

X射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相,而定量分析可以告诉我们这些物相的含量。()

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第10题
X射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相,而定量分析可以告诉我们这些物相的含量。()
X射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相,而定量分析可以告诉我们这些物相的含量。()

A.错误

B.正确

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第11题
X射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相,而定量分析可以告诉我们这些物相的含量。()
X射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相,而定量分析可以告诉我们这些物相的含量。()

A.正确

B.错误

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