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更多“当样品为单晶体时，可以采用下列哪种X射线衍射方法（)”相关的问题
第1题
电子与物质的相互作用时（)
A:入射电子束可以被聚焦
B:入射电子与样品原子发生弹性散射，散射波相互干涉形成衍射波
C:入射能量为10~200KeV的高能电子穿透能力比X射线强，可用于薄膜分析
D:入射能量为10~500eV的低能电子可用于分析样品表面1-5个原子层的结构信息
第3题
满足______方程时，晶体才能产生衍射。当X射线的波长λ已知时，测定出______角，就可计算出______，这是X射线衍射
进行晶体结构分析的基础。故在X射线衍射分析时，需要采用______X射线。
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第4题
当X射线管电压低于临界电压时仅可以产生连续X射线;当X射线管电压超过临界电压就可以产生特征X射线和连续X射线。()
当X射线管电压低于临界电压时仅可以产生连续X射线;当X射线管电压超过临界电压就可以产生特征X射线和连续X射线。（)
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A.错误
B.正确
第5题
在X射线光谱法中，当采用LiF（2d=0.402 7 nm)作为分光晶体时，在一级衍射2θ=45°处有一谱峰。计算此峰波长应为多
在X射线光谱法中，当采用LiF(2d=0.402 7 nm)作为分光晶体时，在一级衍射2θ=45°处有一谱峰。计算此峰波长应为多少？
第6题
对样品进行表面形貌分析时应使用（)。A、X射线衍射（XRD)B、透射电镜（TEM)C、扫描电镜（SEM)
对样品进行表面形貌分析时应使用()。
A、X射线衍射(XRD)
B、透射电镜(TEM)
C、扫描电镜(SEM)
第8题
当用具有一定能量的电子束（或x射线)激发样品时，记录所产生的各种二次电子的能量分布，可通过改变______使其
当用具有一定能量的电子束(或x射线)激发样品时，记录所产生的各种二次电子的能量分布，可通过改变______使其他峰产生移动而______不变来确认。
第10题
下图是回转照相法的原理图。单晶样品置于底片圆筒底 部中心，垂直z方向的X射线照射样品，在底片某处产生波
下图是回转照相法的原理图。单晶样品置于底片圆筒底
部中心，垂直z方向的X射线照射样品，在底片某处产生波长差为lλ的衍射点，试推导样品晶胞参数c的表达公式。
第11题
X射线测厚仪的放射源和检测器均置于被测带材的上方。当射线发射时，一部分射线被材料吸收;另一部分则被测材料反射进入检测器，为检测器所吸收。()
X射线测厚仪的放射源和检测器均置于被测带材的上方。当射线发射时，一部分射线被材料吸收;另一部分则被测材料反射进入检测器，为检测器所吸收。（)
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A.错误
B.正确
