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试分析XHDl50B.10型X线机mA测量电路(图2-2)的工作原理。

试分析XHDl50B.10型X线机mA测量电路(图2-2)的工作原理。

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第1题
简述X线机中千伏表的工作原理。

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第2题
设F(x)在(a,b)上可测,试证明下述(1)与(2)等价:

设F(x)在(a,b)上可测,试证明下述(1)与(2)等价:

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第3题
试证明: 设f(x)在R1上可测,φ:(0,∞)→(a,∞) (a>0)且是递增函数,则 .

试证明:

设f(x)在R1上可测,φ:(0,∞)→(a,∞) (a>0)且是递增函数,则

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第4题
试证明: 设f∈L([0,1]),且有,则存在[0,1]上的可测函数g(x),使得 ,.

试证明:

设f∈L([0,1]),且有,则存在[0,1]上的可测函数g(x),使得

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第5题
试证明: 设f(x)是R1上具有正周期T的可测函数,且,则 .

试证明:

设f(x)是R1上具有正周期T的可测函数,且,则

.

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第6题
在X荧光内标元素加入法中,对于原子序数(Z)大于23号的待测元素的Kα线,原子序数为的()元素是理想的内标元素。

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第7题
试证明: 设F∈L([0,∞)),g(x)在[0,∞)上可测,若存在M>0.使得|g(x)/x|≤M(0<x<+∞),则 .

试证明:

设F∈L([0,∞)),g(x)在[0,∞)上可测,若存在M>0.使得|g(x)/x|≤M(0<x<+∞),则

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第8题
试证明: 设f(x),fn(x)(n∈N)在R1上可测,g∈C(R1),若,a.e.x∈R1,则,a.e.x∈R1.

试证明:

设f(x),fn(x)(n∈N)在R1上可测,g∈C(R1),若,a.e.x∈R1,则,a.e.x∈R1

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第9题
试证明: 设是可测集合列,则{χEk(x)}是依测度Cauchy列的充分必要条件是:.

试证明:

是可测集合列,则{χEk(x)}是依测度Cauchy列的充分必要条件是:

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第10题
试证明: 设f(x),g(x)是[0,∞)上非负递增函数,φ(x),ψ(x)是[0,∞)上非负可测函数,则对a<b,有 .

试证明:

设f(x),g(x)是[0,∞)上非负递增函数,φ(x),ψ(x)是[0,∞)上非负可测函数,则对a<b,有

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第11题
试证明: 设{fk(x)}是E上的可测函数列,F∈L(E)且F(x)>0(x∈E).若fk(x)≥-F(x)(x∈E),则 .

试证明:

设{fk(x)}是E上的可测函数列,F∈L(E)且F(x)>0(x∈E).若fk(x)≥-F(x)(x∈E),则

.

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